WDCB-1巖石電性標(biāo)本參數(shù)測(cè)試儀
產(chǎn)品詳細(xì)介紹 WDCB-1巖石電性標(biāo)本參數(shù)測(cè)試儀 頻散特性 實(shí)驗(yàn)分析 物性參數(shù) 激發(fā)極化 電磁耦合 巖石電性參數(shù)的頻散特性不僅受孔隙流體性質(zhì)及其分布的影響, 與巖石的物性參數(shù)也關(guān)系密切.本文通過(guò)不同孔隙度、不同滲透率的巖石電性參數(shù)頻散特性的實(shí)驗(yàn)研究, 依據(jù)Maxwell-Wagner界面極化理論, 分析了巖石物性參數(shù)對(duì)巖石頻散特性的影響規(guī)律及物理機(jī)理, 同時(shí)建立了巖石電性參數(shù)頻散特性與孔隙度和滲透率的關(guān)系模型, 驗(yàn)證了利用巖石的電性參數(shù)頻散特性評(píng)價(jià)儲(chǔ)層物性參數(shù)的可行性. WDCB-1石電性標(biāo)本參數(shù)測(cè)試儀是基于現(xiàn)在的科學(xué)實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)上,提出來(lái)的對(duì)巖石內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行探測(cè)的新手段和新方法,通過(guò)測(cè)試巖石標(biāo)本的電壓,電流,極化率,及衰減曲線(xiàn),從而得到巖石電阻率參數(shù),目前成為是各大檢測(cè)機(jī)構(gòu)數(shù)據(jù)分析及高等院校科學(xué)研究的重要手段. 主要技術(shù)指標(biāo): 輸入阻抗 大于100MΩ電位精度 ±1%±1個(gè)字分辨率 0.001%精度 ±1%±1個(gè)字分辨率 0.01mA測(cè)量精度 ±1%±1個(gè)字測(cè)量方式 外控同步、自同步干擾 優(yōu)于80dB采樣方式 二次場(chǎng)衰減曲線(xiàn)傳輸方式 USB存儲(chǔ)器 具有1G非易失存儲(chǔ)器,可長(zhǎng)期保存工作溫度 -10℃~+50℃,95%RH外形尺寸 270mm×246mm×123mm儀器重量 3.0Kg
北京圓通科技地學(xué)儀器研究所
2021-08-23