有關(guān)皮米尺度精確測量表面結(jié)構(gòu)的研究
通過利用環(huán)形明場成像技術(shù)在皮米(0.001 納米)尺度上精確測量陰、陽離子之間的鍵長來計(jì)算表面結(jié)構(gòu)的細(xì)微畸變(圖一)。研究表明,在不同極化取向的鐵電疇中,PbZr0.2Ti0.8O3的表面原子結(jié)構(gòu)完全不一樣,在表面薄層中可以存在“鐵電死層”和高能的帶電疇壁。這些發(fā)現(xiàn)為鐵電薄膜、鐵電陶瓷、鐵電表面催化等應(yīng)用提供了非常重要的信息。同時,發(fā)展起來的基于環(huán)形明場像技術(shù)定量測量絕緣氧化物表面結(jié)構(gòu)的方法,將極大地提高我們對這些復(fù)雜功能氧化物材料物性的認(rèn)知。
北京大學(xué)
2021-04-11