通過利用環形明場成像技術在皮米(0.001 納米)尺度上精確測量陰、陽離子之間的鍵長來計算表面結構的細微畸變(圖一)。研究表明,在不同極化取向的鐵電疇中,PbZr0.2Ti0.8O3的表面原子結構完全不一樣,在表面薄層中可以存在“鐵電死層”和高能的帶電疇壁。這些發現為鐵電薄膜、鐵電陶瓷、鐵電表面催化等應用提供了非常重要的信息。同時,發展起來的基于環形明場像技術定量測量絕緣氧化物表面結構的方法,將極大地提高我們對這些復雜功能氧化物材料物性的認知。