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本發(fā)明公開(kāi)了一種磁浮平面電機(jī)位置初始定位方法，該方法包 括以下步驟：在磁浮平面電機(jī)動(dòng)子不同位置放置 4 個(gè)霍爾傳感器，通 過(guò)測(cè)量電機(jī)靜止時(shí)各個(gè)傳感器所在位置的磁通密度，選取磁通密度最 低的 3 個(gè)測(cè)量值作為觀測(cè)值，結(jié)合磁鋼陣列上磁通密度分布模型，通 過(guò)特定的數(shù)學(xué)模型來(lái)計(jì)算磁浮平面電機(jī)幾何中心所處的磁場(chǎng)相位，實(shí) 現(xiàn)平面電機(jī)動(dòng)子幾何中心初始磁場(chǎng)相位定位及旋轉(zhuǎn)角度定位。該方法 通過(guò)增加冗余傳感器及對(duì)傳感器合理排布避免傳感器在磁場(chǎng)峰值進(jìn)行 數(shù)據(jù)采集，提升了定位精度。 

項(xiàng)目研究背景： 焊接是機(jī)械制造工業(yè)中關(guān)鍵的工藝技術(shù)之一。焊接自 動(dòng)化必須借助一定的焊接自動(dòng)化裝備，目前國(guó)內(nèi)外廣泛采用機(jī)器人。機(jī)器 人是一種傳統(tǒng)的機(jī)構(gòu)學(xué)與近代電子相結(jié)合的產(chǎn)物。其綜合了計(jì)算機(jī)科學(xué)、 控制論、機(jī)構(gòu)學(xué)、信息科學(xué)和傳感器技術(shù)等多個(gè)學(xué)科。機(jī)器人作為一種代 替勞動(dòng)者完成繁重而危險(xiǎn)重復(fù)性的工作的自動(dòng)化設(shè)備已被廣泛地應(yīng)用于 汽車、機(jī)械、電子、建筑等行業(yè)。 技術(shù)原理 ：本產(chǎn)品是針對(duì)平面彎曲焊縫自動(dòng)跟蹤所開(kāi)發(fā)的一種具有智

本發(fā)明公開(kāi)了一種具備故障檢測(cè)和參數(shù)校正功能的平面扭簧裝置，它由平面扭簧、故障檢測(cè)電路和力矩傳感器三部分組成。本發(fā)明充分利用各種平面扭簧的優(yōu)勢(shì)，通過(guò)檢測(cè)固定環(huán)和安裝環(huán)間的通斷對(duì)彈性體進(jìn)行故障檢測(cè)，可以有效判斷彈性體的使用壽命，為改進(jìn)設(shè)計(jì)和加工工藝提供依據(jù)，有助于縮短迭代開(kāi)發(fā)的周期，提高對(duì)平面扭簧設(shè)計(jì)質(zhì)量的觀測(cè)和分析；通過(guò)力矩傳感器的精確力矩檢測(cè)，可以實(shí)時(shí)補(bǔ)償和校正彈性體的彈性系數(shù)變化，以提高對(duì)力矩控制的性能，為了降低成本，在關(guān)節(jié)設(shè)計(jì)中可以去除力矩傳感器，而在定期檢查時(shí)可以使用一個(gè)力矩傳感器對(duì)所有關(guān)節(jié)進(jìn)行校正即可。本發(fā)明的平面扭簧裝備結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，適合應(yīng)用于各種機(jī)器人和機(jī)械臂關(guān)節(jié)。

涉及一種基于平面掃描三維成像的人體安檢系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)的安檢門框架內(nèi)裝有平面掃描驅(qū)動(dòng)單元的掃描臂，掃描臂前后兩側(cè)分別裝有掃描單元的毫米波收發(fā)天線陣列，安檢門框架兩側(cè)分別裝有毫米波收發(fā)機(jī)，掃描臂上端連接平面掃描驅(qū)動(dòng)單元的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，控制單元連接掃描單元和平面掃描驅(qū)動(dòng)單元，以使毫米波收發(fā)天線陣列進(jìn)行平面掃描；控制單元連接數(shù)據(jù)采集單元，用于控制所述數(shù)據(jù)采集單元采集處理來(lái)自掃描單元的檢測(cè)信號(hào)；圖像處理單元連接數(shù)據(jù)采集單元，用于根據(jù)采集數(shù)據(jù)和采集數(shù)據(jù)的空間位置信息合成三維全息圖像，并由顯示器顯示所述三維全息圖像。

本發(fā)明公開(kāi)了一種多探針平面度檢測(cè)儀及其相應(yīng)的檢測(cè)方法，該檢測(cè)儀包括測(cè)量探針陣列、測(cè)量物鏡、干涉顯微鏡、CCD 成像裝置、垂直掃描工作臺(tái)和水平工作臺(tái)，其中干涉顯微鏡和 CCD 成像裝置設(shè)置在垂直掃描工作臺(tái)上，分別用于形成光的干涉條紋和干涉條紋的成像；測(cè)量探針陣列包括多個(gè)探針，這些探針各自的前端具有探針針尖，后端具有平面反射鏡；測(cè)量物鏡固定安裝在干涉顯微鏡下部并處于探針平面反射鏡上方，用于對(duì)光線進(jìn)行匯聚；水平工作臺(tái)設(shè)置在測(cè)量探針陣列下方用于放置被測(cè)樣品。按照本發(fā)明，能夠?qū)崿F(xiàn)多探針同時(shí)測(cè)量，充分利用光干涉的高精度特性并有效避免測(cè)量時(shí)被測(cè)表面材料光學(xué)性能的影響，相應(yīng)能夠?qū)崿F(xiàn)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、測(cè)量精度高和成本低的效果。

項(xiàng)目概況 本軟件適用于機(jī)械行業(yè)精密檢測(cè)，可對(duì)平板的平面度誤差、軸類零件的圓度誤差及球 類零件的球度誤差進(jìn)行精確計(jì)算，在不改變硬件測(cè)量設(shè)備的前提下，通過(guò)采用該軟件能夠大 大提高設(shè)備的檢測(cè)精度，增強(qiáng)設(shè)備的通用性和柔性，對(duì)機(jī)械行業(yè)具有重要的現(xiàn)實(shí)意義。本軟 件可推廣應(yīng)用于三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x等新型測(cè)量設(shè)備中。。 本項(xiàng)目處于國(guó)際先進(jìn)水平，擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)。 主要特點(diǎn) ISO1101 和 GB/T1182-1996 規(guī)定，形狀誤差的評(píng)定應(yīng)符合最小區(qū)域法，并以此為仲裁 方法。但因傳統(tǒng)算法無(wú)法對(duì)各種形狀誤差以及同一種誤差不同的測(cè)點(diǎn)形式尋找出統(tǒng)一的誤差 表達(dá)式，導(dǎo)致算法太煩瑣、不易在計(jì)算機(jī)上實(shí)現(xiàn)，為此目前檢測(cè)設(shè)備在對(duì)形狀誤差檢測(cè)時(shí)， 其評(píng)定結(jié)果多是根據(jù)最小二乘法計(jì)算，但最小二乘法提供的僅是形狀誤差的近似評(píng)定結(jié)果， 并不保證解的最小區(qū)域性。隨著數(shù)控和精密加工技術(shù)的迅速發(fā)展，對(duì)產(chǎn)品的加工和裝配精度 要求越來(lái)越高，能否實(shí)現(xiàn)機(jī)械零件形狀誤差快速、精確評(píng)定對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和成本至關(guān)重要。本 軟件的研制即為解決這一問(wèn)題而展開(kāi)。 技術(shù)指標(biāo) 該軟件采用進(jìn)化計(jì)算求解平面度、圓度及球度誤差的最小區(qū)域解，其計(jì)算結(jié)果比按最小 二乘法的計(jì)算結(jié)果小 1.8%~30%；用戶在使用時(shí)，只要根據(jù)軟件提示選擇待評(píng)定的形狀誤差 類型，導(dǎo)入測(cè)量數(shù)據(jù)，不論測(cè)點(diǎn)形式如何，軟件都能快速地將形狀誤差的最小區(qū)域解計(jì)算出 來(lái)，克服了傳統(tǒng)算法存在的無(wú)法對(duì)多種形狀誤差或同一種誤差不同的測(cè)點(diǎn)形式尋找出統(tǒng)一的 誤差表達(dá)式，導(dǎo)致算法太煩瑣、不易在計(jì)算機(jī)上實(shí)現(xiàn)，從而不便于在三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x等新型精 密儀器中推廣應(yīng)用的缺陷。 市場(chǎng)前景 本軟件采用基于實(shí)數(shù)編碼的進(jìn)化算法能夠快速精確地求解平面度、圓度及球度形狀誤差 的最小區(qū)域解。該軟件人機(jī)界面友好，操作簡(jiǎn)便，計(jì)算準(zhǔn)確且計(jì)算速度快，能方便地導(dǎo)入測(cè) 量數(shù)據(jù)、顯示形狀誤差進(jìn)化過(guò)程曲線及計(jì)算結(jié)果，同時(shí)具有打印輸出等功能，易于在新型精 密儀器中推廣應(yīng)用。 

項(xiàng)目概況 本軟件適用于機(jī)械行業(yè)精密檢測(cè)，可對(duì)平板的平面度誤差、軸類零件的圓度誤差及球 類零件的球度誤差進(jìn)行精確計(jì)算，在不改變硬件測(cè)量設(shè)備的前提下，通過(guò)采用該軟件能夠大 大提高設(shè)備的檢測(cè)精度，增強(qiáng)設(shè)備的通用性和柔性，對(duì)機(jī)械行業(yè)具有重要的現(xiàn)實(shí)意義。本軟 件可推廣應(yīng)用于三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x等新型測(cè)量設(shè)備中。。 本項(xiàng)目處于國(guó)際先進(jìn)水平，擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)。 主要特點(diǎn) ISO1101 和 GB/T1182-1996 規(guī)定，形狀誤差的評(píng)定應(yīng)符合最小區(qū)域法，并以此為仲裁 方法。但因傳統(tǒng)算法無(wú)法對(duì)各種形狀誤差以及同一種誤差不同的測(cè)點(diǎn)形式尋找出統(tǒng)一的誤差 表達(dá)式，導(dǎo)致算法太煩瑣、不易在計(jì)算機(jī)上實(shí)現(xiàn)，為此目前檢測(cè)設(shè)備在對(duì)形狀誤差檢測(cè)時(shí)， 其評(píng)定結(jié)果多是根據(jù)最小二乘法計(jì)算，但最小二乘法提供的僅是形狀誤差的近似評(píng)定結(jié)果， 并不保證解的最小區(qū)域性。隨著數(shù)控和精密加工技術(shù)的迅速發(fā)展，對(duì)產(chǎn)品的加工和裝配精度 要求越來(lái)越高，能否實(shí)現(xiàn)機(jī)械零件形狀誤差快速、精確評(píng)定對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和成本至關(guān)重要。本 軟件的研制即為解決這一問(wèn)題而展開(kāi)。 技術(shù)指標(biāo) 該軟件采用進(jìn)化計(jì)算求解平面度、圓度及球度誤差的最小區(qū)域解，其計(jì)算結(jié)果比按最小 二乘法的計(jì)算結(jié)果小 1.8%~30%；用戶在使用時(shí)，只要根據(jù)軟件提示選擇待評(píng)定的形狀誤差 類型，導(dǎo)入測(cè)量數(shù)據(jù)，不論測(cè)點(diǎn)形式如何，軟件都能快速地將形狀誤差的最小區(qū)域解計(jì)算出 來(lái)，克服了傳統(tǒng)算法存在的無(wú)法對(duì)多種形狀誤差或同一種誤差不同的測(cè)點(diǎn)形式尋找出統(tǒng)一的 誤差表達(dá)式，導(dǎo)致算法太煩瑣、不易在計(jì)算機(jī)上實(shí)現(xiàn)，從而不便于在三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x等新型精 密儀器中推廣應(yīng)用的缺陷。 市場(chǎng)前景 本軟件采用基于實(shí)數(shù)編碼的進(jìn)化算法能夠快速精確地求解平面度、圓度及球度形狀誤差 的最小區(qū)域解。該軟件人機(jī)界面友好，操作簡(jiǎn)便，計(jì)算準(zhǔn)確且計(jì)算速度快，能方便地導(dǎo)入測(cè) 量數(shù)據(jù)、顯示形狀誤差進(jìn)化過(guò)程曲線及計(jì)算結(jié)果，同時(shí)具有打印輸出等功能，易于在新型精 密儀器中推廣應(yīng)用。 

本發(fā)明公開(kāi)了一種基于電控液晶平面微透鏡的波前控制芯片。芯片包括面陣電控液晶平面微透鏡，其包括液晶材料層，依次設(shè)置在液晶材料層上表面的第一液晶初始取向?qū)印D形化電極層、第一基片和第一增透膜，以及依次設(shè)置在液晶材料層下表面的第二液晶初始取向?qū)印⒐搽姌O層、第二基片和第二增透膜；公共電極層由一層勻質(zhì)導(dǎo)電膜構(gòu)成；圖形化電極層由 m×n 元陣列分布的子電極構(gòu)成，每個(gè)子電極均由繞圓周呈十字叉型均勻分布的四個(gè)條狀導(dǎo)電膜構(gòu)成，單個(gè)

本發(fā)明公開(kāi)了一種基于電控液晶紅外發(fā)散平面微透鏡的紅外波束控制芯片。其包括電控液晶紅外發(fā)散平面微透鏡陣列；電控液晶紅外發(fā)散平面微透鏡陣列包括液晶材料層，依次設(shè)置在液晶材料層上表面的第一液晶初始取向?qū)印⒌谝浑姼綦x層、圖形化電極層、第一基片和第一紅外增透膜，以及依次設(shè)置在液晶材料層下表面的第二液晶初·750·始取向?qū)印⒌诙姼綦x層、公共電極層、第二基片和第二紅外增透膜；公共電極層由一層勻質(zhì)導(dǎo)電膜構(gòu)成；圖形化電

基于平面鏡反射的微懸臂梁偏轉(zhuǎn)檢測(cè)新技術(shù)采用在檢測(cè)系統(tǒng)外添加平面鏡的手段，進(jìn)一步提高了微懸臂梁檢測(cè)的精確度，并且實(shí)現(xiàn)了同時(shí)對(duì)多根梁的往復(fù)檢測(cè)、實(shí)時(shí)檢測(cè)。不僅有效的避免了因移動(dòng)系統(tǒng)元件導(dǎo)致巨大誤差的缺點(diǎn)；而且極大地提高了檢測(cè)的效率。該新技術(shù)具有檢測(cè)精度高、系統(tǒng)結(jié)構(gòu)穩(wěn)定、生產(chǎn)周期短、成本相對(duì)較低、易實(shí)現(xiàn)產(chǎn)業(yè)化、具有顯著的經(jīng)濟(jì)效益和社會(huì)效益。國(guó)家發(fā)明專利授權(quán)：201420094273.2（授權(quán)），201410075534.0（實(shí)質(zhì)審查）