研發(fā)階段/n成果簡(jiǎn)介：HALT(HighAcceleratedolifetest)是一種發(fā)現(xiàn)缺陷的工序,它通過(guò)設(shè)置逐級(jí)遞增的加嚴(yán)的環(huán)境應(yīng)力，加速暴露試驗(yàn)樣品的缺陷和薄弱點(diǎn)，而后對(duì)暴露的缺陷和故障從設(shè)計(jì)、工藝和用料等諸方面進(jìn)行分析和改進(jìn)，從而達(dá)到提升可靠性的目的，最大的特點(diǎn)是設(shè)置高于樣品設(shè)計(jì)運(yùn)行限的環(huán)境應(yīng)力，從而使暴露故障的時(shí)間大大短于正常可靠性應(yīng)力條件下的所需時(shí)間。HALT試驗(yàn)?zāi)康模?）通過(guò)系統(tǒng)地施加工作應(yīng)力和逐步增大的環(huán)境應(yīng)力，來(lái)激發(fā)故障，暴露產(chǎn)品設(shè)計(jì)中的薄弱環(huán)節(jié)，為開(kāi)發(fā)人員改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)方案提供依