電子材料及器件低頻噪聲-可靠性測(cè)試平臺(tái)
電子材料及器件噪聲-可靠性測(cè)試平臺(tái),該系統(tǒng)是國(guó)內(nèi)外首套電子器件噪聲-可靠性分析系統(tǒng)。采用了基于虛擬儀器的微弱噪聲測(cè)試、基于噪聲的可靠性診斷方法、電子器件噪聲的子波分析方法等關(guān)鍵技術(shù),將子波分析用于噪聲-可靠性表征,可對(duì)各種電子器件和集成電路模塊進(jìn)行噪聲測(cè)試與分析、內(nèi)部潛在缺陷診斷和無(wú)損預(yù)篩選。系統(tǒng)可以測(cè)量電子器件的各種噪聲參數(shù),同時(shí)對(duì)噪聲進(jìn)行頻譜分析、子波分析、集總參數(shù)分析。具有實(shí)時(shí)檢測(cè)、采集、和分析, 高精度、高可靠性、智能化、小體積的優(yōu)點(diǎn),良好的通用性和可升級(jí)性使其同時(shí)適用于科研和生產(chǎn)單位。
電子科技大學(xué)
2021-04-10