納米尺度下大面積散射場的快速測量方法及裝置
本發明公開了一種納米尺度下快速大面積海量散射場測量的裝 置,包括:起偏端,用于將光束進行調制得到一定偏振態的光束;檢 偏端,用于將偏振態光束進行解調以獲得樣品信息;還包括物鏡和第 一透鏡,待測樣品位于物鏡的前焦面上,偏振態光束經過該第一透鏡 聚焦在物鏡的后焦面,待測樣品散射光被物鏡收集并成像于其后焦面, 進而成像于圖像采集裝置上;以及掃描振鏡,用于使得所述物鏡出射 到樣品上的光束角度改變,獲得待測樣品不同入射角下的散射場分布 圖像,實現對待測樣品納米尺度下的快速精確的形貌測量。本發明還 公開了相應的
華中科技大學
2021-04-14