一種基于稀疏的微小缺陷高頻超聲顯微成像超分辨的方法
本發(fā)明屬于稀疏超分辨檢測領(lǐng)域,并公開了一種基于稀疏的微 小缺陷高頻超聲顯微成像超分辨的方法。該方法包括如下步驟:執(zhí)行 過采樣高頻超聲顯微 C-掃成像;根據(jù)過采樣時(shí)的采樣步長與超聲探頭 分辨率,計(jì)算出探頭點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù) k;由點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)根據(jù)進(jìn)行稀疏超分 辨計(jì)算,獲得最終高分辨圖像。本發(fā)明方法實(shí)現(xiàn)了高頻顯微成像對現(xiàn) 微小缺陷進(jìn)行超分辨顯微成像,增強(qiáng)圖像信噪比和分辨率,提高微小缺陷檢測的準(zhǔn)確性,同時(shí)對于微觀缺陷的檢測有著重要的意義,有效 地推動微器件可靠性的發(fā)展。
華中科技大學(xué)
2021-04-14