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本發(fā)明公開了一種空間分辨率自適應(yīng)調(diào)整的粒子圖像測(cè)速矢量估計(jì)方法。所述空間分辨率自適應(yīng)調(diào)整的粒子圖像測(cè)速矢量估計(jì)方法，首先對(duì)第 n 時(shí)刻和第 n+1 時(shí)刻的圖像進(jìn)行降噪處理，然后根據(jù)第 n 時(shí)刻的查詢窗口參數(shù)更新第 n+1 時(shí)刻的查詢窗口參數(shù),最后根據(jù)第 n+1 時(shí)刻的查詢窗口參數(shù)，對(duì)第 n 時(shí)刻和第 n+1 時(shí)刻圖像進(jìn)行 PIV 流場(chǎng)矢量估計(jì)，得到全場(chǎng)速度矢量，其中查詢窗口參數(shù)由人工指定。本發(fā)明提供的空間分辨率自適應(yīng)調(diào)整的粒子圖像測(cè)量方法突破了傳統(tǒng)的粒子圖像測(cè)速方法單向計(jì)算的計(jì)算模式，能自動(dòng)適應(yīng)流暢

本發(fā)明屬于稀疏超分辨檢測(cè)領(lǐng)域，并公開了一種基于稀疏的微 小缺陷高頻超聲顯微成像超分辨的方法。該方法包括如下步驟:執(zhí)行 過(guò)采樣高頻超聲顯微 C-掃成像;根據(jù)過(guò)采樣時(shí)的采樣步長(zhǎng)與超聲探頭 分辨率，計(jì)算出探頭點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù) k;由點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)根據(jù)進(jìn)行稀疏超分 辨計(jì)算，獲得最終高分辨圖像。本發(fā)明方法實(shí)現(xiàn)了高頻顯微成像對(duì)現(xiàn) 微小缺陷進(jìn)行超分辨顯微成像，增強(qiáng)圖像信噪比和分辨率，提高微小缺陷檢測(cè)的準(zhǔn)確性，同時(shí)對(duì)于微觀缺陷的檢測(cè)有著重要的意義，有效 地推動(dòng)微器件可靠性的發(fā)展。

一種空間分辨激光誘導(dǎo)擊穿光譜分析系統(tǒng)，包括脈沖激光器，激光束變換聚焦光學(xué)系統(tǒng)，位移臺(tái)，激光誘導(dǎo)等離子體信號(hào)采集裝置，光譜儀，計(jì)算機(jī)；激光誘導(dǎo)等離子體信號(hào)采集裝置包括夾持器和光纖探針，夾持器的弧形導(dǎo)軌上至少有一個(gè)滑塊，滑塊可在弧形導(dǎo)軌上滑動(dòng)，滑塊中央的孔中有可沿弧形導(dǎo)軌徑向移動(dòng)的套筒；光纖探針固定在套筒的圓孔中。

本發(fā)明公開了一種空間分辨率自適應(yīng)調(diào)整的粒子圖像測(cè)速矢量 估計(jì)方法。所述空間分辨率自適應(yīng)調(diào)整的粒子圖像測(cè)速矢量估計(jì)方法， 首先對(duì)第 n 時(shí)刻和第 n+1 時(shí)刻的圖像進(jìn)行降噪處理，然后根據(jù)第 n 時(shí) 刻的查詢窗口參數(shù)更新第n+1時(shí)刻的查詢窗口參數(shù),最后根據(jù)第n+1時(shí) 刻的查詢窗口參數(shù)，對(duì)第 n 時(shí)刻和第 n+1 時(shí)刻圖像進(jìn)行 PIV 流場(chǎng)矢量 估計(jì)，得到全場(chǎng)速度矢量，其中查詢窗口參數(shù)由人工指定。本發(fā)明提 供的空間分辨率自適應(yīng)調(diào)整的粒子圖像測(cè)量方法突破了傳統(tǒng)的粒子圖 像測(cè)速方法單向計(jì)算的計(jì)算模式，能自動(dòng)適

本發(fā)明公開了一種顧及雪覆蓋影響的高分辨全色遙感影像變化檢測(cè)方法，本發(fā)明充分利用根據(jù)全色 影像上積雪覆蓋的特點(diǎn)，采用基于紋理特征的變化檢測(cè)檢測(cè)方法進(jìn)行變化檢測(cè)，提取變化區(qū)域。采用基 于水平集方法的 Chan-Vese 分割方法提取出實(shí)驗(yàn)新舊影像上的積雪區(qū)域，根據(jù)變化檢測(cè)的結(jié)果和新舊影 像上積雪覆蓋情況，去除部分積雪覆蓋變化而導(dǎo)致的偽變化，提取出變化區(qū)域，提高了變化檢測(cè)的精確 度與地圖修測(cè)的自動(dòng)化程度，縮短了數(shù)據(jù)更新周期。 

本實(shí)用新型提供一種提高微型光譜儀紫外響應(yīng)和分辨率的濾光片，包括基板、鍍膜層和鍍膜保護(hù)層， 所述鍍膜層分為三個(gè)區(qū)域，在不同區(qū)域分別鍍有紫外轉(zhuǎn)換膜，紫外截止濾光膜，可見光截止濾光膜。本 實(shí)用新型同時(shí)解決了紫外效率低、可見光、紅外光波段存在高次衍射光的問(wèn)題，并且可以根據(jù)光譜儀的 光譜范圍選擇鍍膜的層數(shù)、類型、區(qū)間長(zhǎng)度，具有安裝拆卸方便，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用靈活的特點(diǎn)，且鍍膜 之間不會(huì)相互產(chǎn)生干涉。 

本發(fā)明公開了一種時(shí)間分辨率自適應(yīng)調(diào)整的流場(chǎng)狀態(tài)測(cè)量方法，該方法包括如下步驟：首先，根據(jù)第 k+1 時(shí)刻圖像與第 k 時(shí)刻圖像之間的時(shí)間間隔Δt_k，采集第 k+1 時(shí)刻圖像，并對(duì)第 k 時(shí)刻和第k+1 時(shí)刻的圖像進(jìn)行降噪處理；然后，據(jù) k 時(shí)刻圖像和第 k+1 時(shí)刻的圖像，采用粒子圖像測(cè)速方法，計(jì)算第 k+1 時(shí)刻的流場(chǎng)狀態(tài) X(k+1)，包括：位移場(chǎng) x(k+1)、速度場(chǎng) x′(k+1)、加速度場(chǎng) a(k+1)，并輸出顯示；最后，更新第 k+2 時(shí)刻與第

中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)工程科學(xué)學(xué)院ZacharyJ.Smith教授團(tuán)隊(duì)和華中師范大學(xué)化學(xué)學(xué)院高婷娟教授團(tuán)隊(duì)在拉曼生物成像研究領(lǐng)域取得新進(jìn)展，提出了一種基于線掃描拉曼成像系統(tǒng)和偶氮增強(qiáng)拉曼探針相結(jié)合的快速生物成像方法，實(shí)現(xiàn)了對(duì)細(xì)胞器動(dòng)態(tài)過(guò)程的高分辨率、低功耗的影像。

霍爾效應(yīng)測(cè)試儀—高低溫磁場(chǎng)型本儀器系統(tǒng)由：電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源高精度電壓表、高斯計(jì)、霍爾效應(yīng)樣品支架、標(biāo)準(zhǔn)樣品、高低溫杜瓦，控溫儀，系統(tǒng)軟件。為本儀器系統(tǒng)專門研制的JH10 效應(yīng)儀將恒流源，六位半微伏表及霍爾測(cè)量復(fù)雜的切換繼電器——開關(guān)組裝成一體，大大減化了實(shí)驗(yàn)的連線與操作。 您也可以在淘寶網(wǎng)首頁(yè)搜索“錦正茂科技”，就能看到我們的企業(yè)店鋪，聯(lián)系更加方便快速！ 產(chǎn)品概述： 本儀器系統(tǒng)由：電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源高精度電壓表、高斯計(jì)、霍爾效應(yīng)樣品支架、標(biāo)準(zhǔn)樣品、高低溫杜瓦，控溫儀，系統(tǒng)軟件。為本儀器系統(tǒng)專門研制的JH10 效應(yīng)儀將恒流源，六位半微伏表及霍爾測(cè)量復(fù)雜的切換繼電器——開關(guān)組裝成一體，大大減化了實(shí)驗(yàn)的連線與操作。JH10 可單獨(dú)做恒流源、微伏表使用。用于測(cè)量半導(dǎo)體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等重要參數(shù)，而這些參數(shù)是了解半導(dǎo)體材料電學(xué)特性必須預(yù)先掌控的，因此霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)是理解和研究半導(dǎo)體器件和半導(dǎo)體材料電學(xué)特性必*的工具。 實(shí)驗(yàn)結(jié)果由軟件自動(dòng)計(jì)算得到，可同時(shí)得到體載流子濃度(Bulk Carrier oncentration)、表面載流子濃度(Sheet Carrier Concentration)、遷移率(Mobility)、電阻率(Resistivity)、霍爾系數(shù)(Hall Coefficient)、磁致電阻(Magnetoresistance)等。 您也可以在淘寶網(wǎng)首頁(yè)搜索“錦正茂科技”，就能看到我們的企業(yè)店鋪，聯(lián)系更加方便快速！ 可測(cè)試材料: Ø 半導(dǎo)體材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和鐵氧體材料等； 低阻抗材料：石墨烯、金屬、透明氧化物、弱磁性半導(dǎo)體材料、TMR 材料等； 高阻抗材料：半絕緣的 GaAs, GaN, CdTe 等。 您也可以在淘寶網(wǎng)首頁(yè)搜索“錦正茂科技”，就能看到我們的企業(yè)店鋪，聯(lián)系更加方便快速！