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一種基于微流控通道的磁分離方法及裝置
本發明公開了一種基于微流控通道的磁分離方法和裝置，所述方法包括：控制樣品液流入微流控通道；對所述微流控通道中的樣品液施加垂直于微流控通道方向的梯度磁場，使所述樣品液中的不同粒子分離；對所述微流控通道中的樣品液施加靜態均勻磁場；對所述微流控通道中的樣品液施加周期均勻磁場，所述梯度磁場、周期均勻磁場以及靜態均勻磁場共同作用產生振蕩復合式梯度磁場，避免所述樣品液中不同的粒子團聚；其中，所述微流控通道、所述梯度磁場以及所述靜態均勻磁場位于 xy 平面內，所述周期均勻磁場垂直于 xy 平面。本發明中涉及的磁分
華中科技大學
2021-04-14
一種全通道調制編碼的角度復合散斑降噪系統
本實用新型公開了一種全通道調制編碼的角度復合散斑降噪系統，包括低相干寬帶光源、環行器、光纖耦合器、參考臂、樣品臂、光譜儀和處理單元模塊；其中：參考臂由第一偏振控制器、第一準直透鏡、聚焦透鏡和平面反射鏡組成；樣品臂由第二偏振控制器、第二準直透鏡、正交掃描裝置和物鏡組成；光譜儀由第三準直透鏡、衍射光柵、傅里葉透鏡和高速線陣相機組成；利用本實用新型獲得的多個空間角度復合的樣品結構圖像，其散斑噪聲有所降低，圖像質量提高，結構圖中的細節信息更加清晰。
浙江大學
2021-04-13
雙通道欠采樣線掃頻脈沖信號的時延估計方法
本發明公開了一種雙通道欠采樣線掃頻脈沖信號的時延估計方法，采用雙通道采樣信號的分數階傅里葉域互譜進行 Chirp 脈沖時延估計，可以有效消除低采樣甚至是欠采樣Chirp 信號，采用傳統脈沖壓縮以及基于分數階傅里葉變換的時延估計算法時，因頻域或變換域頻譜產生混疊造成時延估計模糊問題，并且能夠以較低采樣率實現信號的時延估計，有效降低接收信號的采樣率和后續信號處理的運算量，并且可以通過快速傅里葉變換算法實現，計算復雜度低；此外，由于分數階傅里葉域濾波可以抑制某些在傅里葉域無法濾除的干擾和噪聲，通過分數階傅里葉域濾波的優勢，有效抑制同頻信號間的相互干擾；為線掃頻脈沖體制雷達對目標回波信號進行檢測與估計時提供了有效的工具。
安徽理工大學
2021-04-13
多焦點光束產生裝置及多焦點共焦掃描顯微鏡
本發明揭示了一種多焦點光束產生裝置及多焦點共焦掃描顯微鏡,多焦點光束產生裝置包括光源,偏振器和偏振濾波光路;偏振濾波光路在光源出射光束經過偏振器后的光路上設置有第一偏振分光鏡,光束經過第一偏振分光鏡后一部分發生反射,一部分發生透射;在反射光路上依次設置有第一反射鏡,第一濾波片和第二偏振分光鏡;在透射光路上依次設置有第二濾波片,第二反射鏡和第二偏振分光鏡,反射光束和透射光束在第二偏振分光鏡處匯合成一束光束.通過多焦點光束產生裝置產生的光束經聚焦后得到的焦點均勻性高,尺寸小和形狀呈圓對稱分布.本發明掃描顯微鏡可保證高分辨率的前提下成像速度快,或者在同樣的成像速度下具有更高分辨率
上海理工大學
2021-05-04
多模態多特征融合的腦電信號分類與定位模型
北京工業大學
2021-04-14
2024年度《國家哲學社會科學成果文庫》入選名單公布
經專家評審、社會公示，近日，全國哲學社會科學工作辦公室公布2024年度《國家哲學社會科學成果文庫》入選名單。
全國哲學社會科學工作辦公室
2024-10-12
2025年度國家自然科學基金項目指南正式發布
2025年1月14日，國家自然科學基金委員會正式發布《2025年度國家自然科學基金項目指南》。
國家自然科學基金委員會
2025-01-14
高精度圖像對焦伺服控制器及顯微成像系統
技術成熟度：技術突破
領域存在著景深影響效率的突出問題，本產品以高性能異構處理器為核心運算單元，以嵌入式手段通過視覺流與控制流的嚴格對位，高性能實時完成視頻控制信息的結算，并直接輸出電機驅動信號控制相關執行機構完成閉環控制。
本產品主要面向高性能伺服閉環控制的視頻應用領域，能夠顯著提升顯微工業自動化領域的視頻對焦及對位處理的效率及精度，亦可實現宏觀領域的視覺嵌入化控制閉環應用。
意向開展成果轉化的前提條件：中試放大及產業化工藝開發資金支持
東北師范大學
2025-05-16
溶劑型硅溶膠 30%40%50%含量 多規格選擇 全國發貨 免費拿樣
硅溶膠是一種由納米級的二氧化硅（SiO2?）顆粒均勻分散在水或有機溶劑中形成的膠體溶液。
性能優勢
高分散性和穩定性：硅溶膠中的二氧化硅顆粒非常小，具有良好的分散性和穩定性，不易聚沉。
優良的粘結性：硅溶膠能夠牢固地附著在固體表面，形成堅固的膜層，無需額外固化劑。
耐高溫性：硅溶膠具有很高的耐高溫性能，適合在高溫環境下使用。
環保性：硅溶膠無毒、無味、無污染，符合現代工業對環保材料的要求。
東莞市惠和永晟納米科技有限公司
2025-03-27
光潔度檢測儀器/表面光潔度儀
產品詳細介紹 SITA表面光潔度儀介紹 表面光潔度儀是一款操作簡便的手持式零件表面潔凈程度的測試儀器。金屬或者其它材料的零件表面潔凈程度以百分比形式輸出。 由于玷污物的熒光特性，通過一個含紫外光波的LED燈照射，SITA表面光潔度儀 即可探測出玷污物。儀器探頭里的光電二極管負責測量UV熒光的強度。UV熒光越強表示污染程度越大，反之則越潔凈。 SITA 表面光潔度儀 – 測量原理 紫外線照射后產生的熒光是一種特殊形態的冷光。當熒光分析的電子吸收了光子后能量提高，但是這種狀態并不穩定，它會馬上變回初始狀態并把吸收的能量再次釋放出來，發出熒光。由于部分能量轉化成熱量消耗了，所以發出的光線能量降低，波長也變長了。 對于平常清潔過程中的玷污物，SITA表面光潔度儀的參數已經設計得最合適。對于特殊的檢驗要求，它也可能適合LED的波長。由于有機物被UV光激發后具有很強的自體熒光特性，因此儀器能夠檢查出油、油脂和殘余表面活性劑的玷污物。此外，它也可能用于檢查腐蝕或者已知厚度的蠟層。 下圖是冷卻潤滑油在365nm波長下激發的熒光光譜圖。由于它在460nm波長下的熒光強度非常強，所以用SITA表面光潔度儀 在此波長下最容易檢測到這種潤滑油玷污。 SITA表面光潔度儀 的測量原理 SITA表面光潔度儀 的測量原理是共焦法，即激發光線和被激發而產生的光線在同一平行輻射軌跡上。因此，探頭的靈活定位和在線測量都易于實現。基于這種測試原理，對于構成中不含或者含有輕微熒光性原料的零件，儀器都可以檢測其清潔度。
佛山市翁開爾貿易有限公司
2021-08-23