本發明公開了一種用于消除離面位移影響的高溫應變測量方法。本發明針對高溫下用二維數字圖像相關方法測量試件表面應變時,因試件的離面位移引起的測量誤差,提出了一種基于二維數字圖像相關的雙相機測量方法,可用于高溫環境下試件的表面應變測量。根據離面位移引起的虛應變與物距成線性關系,將試件成像于兩臺不同物距的相機,進而消除離面位移的影響,克服了傳統測量方法誤差大或硬件結構復雜的問題。