1. 痛點(diǎn)問題
α粒子探測(cè)技術(shù)廣泛應(yīng)用于核輻射探測(cè)、核醫(yī)學(xué)、核安全監(jiān)測(cè)和環(huán)境輻射檢測(cè)等領(lǐng)域。隨著應(yīng)用環(huán)境的日益復(fù)雜化,尤其在強(qiáng)輻射和高溫等極端條件下,傳統(tǒng)的硅基探測(cè)器暴露出抗輻射能力差、不耐高溫等問題,難以滿足當(dāng)前和未來在嚴(yán)苛環(huán)境下的應(yīng)用需求。
氮化鎵(GaN)材料因其寬禁帶寬度、高擊穿電場(chǎng)、優(yōu)異的抗輻射能力和良好的熱穩(wěn)定性,逐漸成為新一代高性能α粒子探測(cè)器材料的理想選擇。然而,現(xiàn)有的GaN基α粒子探測(cè)器存在以下問題:入射α粒子能量的電荷轉(zhuǎn)化效率較低,以及GaN結(jié)構(gòu)中的電荷分離效率不足,進(jìn)而導(dǎo)致電荷復(fù)合率升高,降低了電荷收集效率。
2. 解決方案
首先,通過優(yōu)化GaN材料的多層結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),提高入射α粒子的能量沉積效率和電子-空穴對(duì)的產(chǎn)生效率。其次,通過設(shè)計(jì)超薄肖特基接觸電極,減少入射α粒子在電極層中的能量損失,提高能量轉(zhuǎn)化效率和探測(cè)效率。最后,通過設(shè)計(jì)保護(hù)環(huán)結(jié)構(gòu),抑制邊緣電場(chǎng)效應(yīng),降低漏電流,從而進(jìn)一步提升探測(cè)器的穩(wěn)定性和能量分辨率。
本成果技術(shù)的GaN基α粒子探測(cè)器在能量轉(zhuǎn)化效率、漏電流控制和穩(wěn)定性等方面具有顯著優(yōu)勢(shì),使其在核輻射監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用前景。與傳統(tǒng)硅基探測(cè)器相比,該技術(shù)在強(qiáng)輻射和高溫等極端環(huán)境中表現(xiàn)更為優(yōu)越,能夠滿足日益增長(zhǎng)的高性能探測(cè)需求。隨著核能、高能物理、深空探測(cè)等領(lǐng)域?qū)Ω咝阅芴綔y(cè)器需求的增長(zhǎng),基于該技術(shù)的探測(cè)器將在未來的相關(guān)應(yīng)用領(lǐng)域中占據(jù)重要市場(chǎng)份額。
本成果技術(shù)擬采用許可或轉(zhuǎn)讓等方式進(jìn)行成果轉(zhuǎn)化。
本成果技術(shù)能夠有效地降低探測(cè)器的漏電流,并提升入射α粒子的能量沉積效率和電子-空穴對(duì)的產(chǎn)生效率,實(shí)現(xiàn)高性能的α粒子探測(cè)器。
掃碼關(guān)注,查看更多科技成果