本發明公開了一種抗輻射加固存儲單元電路,包括:基本存儲單元、冗余存儲單元和雙向反饋單元;其中,基本存儲單元包括第一、第二 PMOS 管和第三、第四 PMOS 管;冗余存儲單元包括第五、第六PMOS 管和第七、第八 PMOS 管;雙向反饋單元用于構成存儲節點與冗余存儲節點間的反饋通路,還用于構成反相存儲節點與反相冗余存儲節點間的反饋通路。本發明的存儲單元電路可自動實現抗總劑量效應加固和抗單粒子閂鎖效應加固,同時利用冗余