本發明公開了一種基于碳化硅的半導體斷路開關的制備方法, 包括以下步驟:以碳化硅作為 N<sup>+</sup>襯底,在其上依次外延 生長摻磷的 N 基區、摻鋁的 P 基區以及摻硼的重摻雜 P<sup>+</sup> 區;在所形成的器件兩端分別加工形成陰極電極和陽極電極;采用機 械切割斜角的方法執行臺面造型和涂膠保護,由此完成半導體斷路開 關的制備過程;本發明還公開了采用該方法制得的兩