簡介:本發明屬于光譜測量技術領域,公開了一種菲涅爾雙面鏡干涉成像光譜儀。它包括光學結構、二維探測器和數據采集系統,所述的光學結構包括前置望遠鏡、入射狹縫和菲涅爾雙面鏡;所述菲涅爾雙面鏡包括平面反射鏡M1和平面反射鏡M2。本發明的成像光譜儀,在結構上,從入射狹縫到二維探測器之間僅有一個光學元件(菲涅爾雙面鏡),這使得儀器結構大為簡化;另外,由于本發明在光路結構中采用菲涅爾雙面鏡,菲涅爾雙面鏡表面反射率高,入射光能損失低。