基于這一新型光子晶體平板結構,研究團隊完成了零維拐角模式的實驗驗證。零維拐角模式是二階拓撲光子晶體與拓撲平庸光子晶體形成拐角時支持的本征模式,其中由偶極極化的一維邊界態構建的零維拐角模式因其實驗難度大還仍未被實驗證實。團隊利用高精度微波近場掃描平臺對該零維拐角模式進行了直接成像,實驗測量結果與數值模擬結果高度吻合,提供了強有力的實驗證據。零維拐角模式為諸如高品質因子腔模等新型光場調控提供了設計新思路,同時在增強光學非線性效應、片上激光光源和光學傳感等方面也具有潛在的應用前景。
掃碼關注,查看更多科技成果