在分立器件測試廠監(jiān)控系統(tǒng)成功實施的基礎(chǔ)上,對長電 IC 測試分廠開發(fā)建立了監(jiān)制系 統(tǒng)。該系統(tǒng)在保留原有系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集與設(shè)備工況的基礎(chǔ)上加入了生產(chǎn)信息與品管信息收集功