本發(fā)明公開了一種光刻掩模優(yōu)化設(shè)計方法,該方法首先依據(jù)表 征掩模的網(wǎng)格格點尺寸大小對掩模進行分級,在粗網(wǎng)格上快速求解掩 模,然后對在粗網(wǎng)格上求解得到的掩模進行插值傳播到下一級較細網(wǎng) 格上進行細化校正,最終實現(xiàn)了掩模的快速優(yōu)化。