采購品目:A02100405 X射線光電子能譜分析
預計采購時間:2022-12
一、X射線源技術指標: 1.X射線源類型:微聚焦單色化Al Kα X射線源 2.束斑大小:10-400μm連續可調,5μm步長。最小聚焦獲得束斑≤10 µm; (常規測試時,采集全譜使用大通能(80-100eV),此時能量分辨率較差,采集高分辨窄掃譜使用小通能(30-50eV),此時可獲得能量分辨率較好,50eV通能對應的Ag3d5/2能量分辨率約為1.0eV) 二、 荷電中和技術指標: 1.帶有同源雙束中和槍,同時具備電子和離子中和能力,且電子及離子來源于同一中和源,可實現精準電荷中和,非過飽和中和; (僅有單電子中和可導致過中和現象。此時C1s譜圖距離污染碳284.8eV的偏移量可達2~3eV;采用電子束+離子束中和可避免過飽和中和現象,校準時C1s能量位移<0.5eV) 2.中和系統不依賴于磁透鏡,對UPS、磁性樣品測試仍可進行荷電中和; PET能量分辨率:≤ 0.82eV(對C1s C-C峰的半高寬,干凈的PET標樣)。 三、樣品臺系統技術指標:1.多軸樣品臺:X、Y、Z 方向移動,圍繞Z軸旋轉,由計算機全自動控制; 2.樣品臺尺寸大于60 mm×60 mm,滿足一次性至少放置80個樣品要求;最大測試樣品厚度不小于20 mm,主要用于一些厚度大的樣品(需提供相關證明材料); 3.樣品臺可裝載粉末和纖維樣品;
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