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高等教育領域數字化綜合服務平臺
Ncomputing N500 終端無線版本
產品詳細介紹
北京創信安泰電子科技有限公司
2021-08-23
平板測力計 5N
產品詳細介紹
偃師市山化方圓儀器廠
2021-08-23
N-異丙基羥胺（IPHA）
序號
規格項目
指標
1
外觀
無色透明液體
2
色度 ≤
200
3
純度 ≥ %
15
4
水 份≤ %
85
包 裝：塑料內膽鐵桶包裝。凈重：170Kg。
用 途：可作為速止劑、阻聚劑、除氧劑等使用。
濟寧康德瑞化工科技有限公司
2021-09-08
扭力測試儀TQ1000/TQ400（T2000/T3000）
產品詳細介紹特點:TQ1000/TQ400（T2000/T3000） 獨特的設計藝術品級的電子部件，先進的脈沖信號過濾能力直接立即讀出扭力值高精度: ± 0.5% 或1個數位完全不受螺母螺栓擰緊測試時連接形式及摩擦因素影響操作簡單工廠校準,方便再校準結構結實可在 110/220 VAC, 60 Hz 之間切換脈沖讀數 300 到 1,800 每分鐘大范圍的扭力讀數:T-2000: 0 到 550 N?mT-3000: 30 到 1,300 N?m大范圍工業應用中，維修保養必不可少的儀器:轎車，卡車，巴士維修站安裝操作沖擊扳手和脈沖工具維修各種要求檢測手動扭力扳手準確性的場合
北京百達泰科機電設備有限公司
2021-08-23
一種近實時地震震源位置定位方法
成果描述：本發明公開了一種近實時地震震源位置定位方法，包括以下步驟：地震發生后，讀取最先得到P波到時的三個臺站編號和地理坐標，識別P波到時，兩兩求出到時差，對地震臺站的經緯度坐標數據進行投影變換轉換成平面直角坐標；對于任意兩個臺站，畫出滿足到時差的雙曲線，震中靠近先到臺站的一支上，三支雙曲線兩兩相交；根據交點坐標構成的三角形，計算三角形重心，該重心的坐標即為震中位置初值；進一步修訂震源位置；對觀測方程和指標函數進行“減元”處理；求偏導數，直到滿足要求為止；將最后計算結果換算成地理坐標，此坐標即為最終結果。本發明通過排除震中方位角和震級估算的誤差，提高了地震定位精度和定位速度。市場前景分析：軌道交通、地質災害工程領域。與同類成果相比的優勢分析：技術先進，性價比較高。
西南交通大學
2021-04-10
一種近實時地震震源位置定位方法
成果描述：本發明公開了一種用于地震預警系統的實時地震震級估計方法，利用地震矩求出的矩震級，即：檢測到信號后每1秒估算出相對應的矩震級，隨著時間增長至20s左右得出與實際震級非常接近的估計震級。本發明利用地震矩從而求出的矩震級能有效克服中大型地震(M>6)中出現的震級飽和問題，而且地震矩與地震動中零頻時的振幅Ω0有明確聯系，具有明確的物理意義。本發明方法具有實時性，檢測到信號后每間隔1s均能估算出相對應的矩震級，隨著時間增長至20s左右就能得出與實際震級非常接近的估計震級，能有效應用于地震預警系統。市場前景分析：軌道交通、地質災害工程領域。與同類成果相比的優勢分析：技術先進，性價比較高。
西南交通大學
2021-04-10
一種工件位置追蹤定位方法及定位系統
本發明公開了一種工件位置追蹤定位方法，包括如下步驟：1) 在車間劃分出多個監測區域，在各監測區域處分別設置攝像頭；2)將 各攝像頭采集到的視頻圖像分別傳送給計算機，并進行運動物體識別； 3)根據各超高頻 RFID 讀寫器的讀取距離，在各監測區域內再分別選定 一個與超高頻 RFID 讀寫器的讀寫距離相應的掃描區域；4)確定工件的 位置信息及所處的加工狀態，并將所得到的上述信息上傳至 MES 生產 管理系統。本發明能夠提
華中科技大學
2021-04-14
一種近實時地震震源位置定位方法
本發明公開了一種用于地震預警系統的實時地震震級估計方法，利用地震矩求出的矩震級，即：檢測到信號后每1秒估算出相對應的矩震級，隨著時間增長至20s左右得出與實際震級非常接近的估計震級。本發明利用地震矩從而求出的矩震級能有效克服中大型地震(M>6)中出現的震級飽和問題，而且地震矩與地震動中零頻時的振幅Ω0有明確聯系，具有明確的物理意義。本發明方法具有實時性，檢測到信號后每間隔1s均能估算出相對應的矩震級，隨著時間增長至20s左右就能得出與實際震級非常接近的估計震級，能有效應用于地震預警系統。
西南交通大學
2018-09-18
基于空中移動平臺的高精度位置測量系統
采用無人機搭載相機以及圖像處理硬件模塊，通過圖像識別與跟蹤實現對運動員的跟蹤、定位功能，并將檢測數據通過WIFI傳輸到數據綜合分析系統。
北京交通大學
2023-05-08
一種芯片位置和傾角檢測裝置及方法
本發明公開了一種芯片位置和傾角檢測裝置，包括光源組件、光路傳輸組件、攝像組件以及自準直儀，其中光源組件由分別對應于芯片和基板的第一、第二光源構成；光路傳輸組件由第一、第二和第三半透半反棱鏡以及第一、第二反射鏡共同構成，由此在同一光路系統中實現對芯片和基板位置的檢測；攝像組件由具備不同視野的第一和第二攝像單元構成，其中第一攝像單元用于采集芯片或基板的大視野圖像，根據 MARK 點實現初步定位，第二攝像單元用于采集其具體位置圖像；自準直儀用于獲取代表芯片水平傾角信息的法線傾斜量。本發明還公開了相應的檢測
華中科技大學
2021-04-14