幅無(wú)載波牛頓環(huán)干涉條紋分析技術(shù)
本成果提出了針對(duì)單幅無(wú)載波牛頓環(huán)干涉條紋的分析技術(shù),可對(duì)球面元件進(jìn)行干涉測(cè)量,獲取球面曲率半徑和頂點(diǎn)位置,也可以用于測(cè)量介質(zhì)折射率和光源波長(zhǎng)。
一、項(xiàng)目分類
關(guān)鍵核心技術(shù)突破
二、技術(shù)分析
成果提出了針對(duì)單幅無(wú)載波牛頓環(huán)干涉條紋的分析技術(shù),可對(duì)球面元件進(jìn)行干涉測(cè)量,獲取球面曲率半徑和頂點(diǎn)位置,也可以用于測(cè)量介質(zhì)折射率和光源波長(zhǎng)。相關(guān)技術(shù)于2013年提出,利用現(xiàn)代信號(hào)/數(shù)據(jù)處理方法,從一個(gè)新的角度解釋了牛頓環(huán)現(xiàn)象的本質(zhì),直接可以通過(guò)單幅牛頓環(huán)條紋圖即可提取出被測(cè)球面曲率半徑、頂點(diǎn)位置(牛頓環(huán)環(huán)心)。相關(guān)技術(shù)在國(guó)內(nèi)外均為首創(chuàng),經(jīng)過(guò)8年的開(kāi)發(fā)和改進(jìn),在科研和教學(xué)領(lǐng)域各開(kāi)發(fā)了一個(gè)原理樣機(jī),具有很好的精度和很低的耗時(shí)的特點(diǎn)。相較其它技術(shù)而言,技術(shù)手段非常簡(jiǎn)潔,無(wú)需昂貴的光學(xué)硬件(移相器、載波調(diào)制),具有更高的抗干擾和抗噪聲能力,在低分辨成像和局部條紋中仍然可以獲得高精度測(cè)量結(jié)果(其它同類方法失效)。可以推廣到任何球面干涉測(cè)量領(lǐng)域,測(cè)量對(duì)象可以是任何球面元器件(眼鏡、光纖連接器、天文望遠(yuǎn)鏡等),也可以用于折射率和波長(zhǎng)測(cè)量領(lǐng)域,是一個(gè)應(yīng)用面很廣的基礎(chǔ)技術(shù)。
北京理工大學(xué)
2022-08-17