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一種鋁合金周期性點(diǎn)陣多孔結(jié)構(gòu)的快速成形制造方法
本發(fā)明公開了一種鋁合金周期性點(diǎn)陣多孔結(jié)構(gòu)的快速成形制造 方法。通過 CAD 軟件構(gòu)建基于點(diǎn)陣單元的周期性點(diǎn)陣多孔結(jié)構(gòu)的三維 模型，將模型以 STL 格式輸出，導(dǎo)入到 SLM 成形設(shè)備中，激光束根 據(jù)切片層的數(shù)據(jù)選擇性地熔化區(qū)域內(nèi)的鋁合金粉末得到二維的金屬結(jié) 構(gòu)，經(jīng)層層堆積最終可以得到與 CAD 模型一致的三維鋁合金多孔結(jié) 構(gòu)，再經(jīng)過熱處理、分離、噴砂等后續(xù)處理即可得到表面光潔、性能 良好的鋁合金周期性點(diǎn)陣多孔結(jié)構(gòu)。本
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種基于大規(guī)模無序圖像的多起點(diǎn)增量式三維重建方法
本發(fā)明公開了一種基于大規(guī)模無序圖像的多起點(diǎn)增量式三維重·699·建方法,包括圖像匹配與匹配關(guān)系圖構(gòu)建、重建起點(diǎn)選擇、邊界檢測(cè)、多起點(diǎn)三維重建和子模型拼接的步驟；利用聚類和迭代漂移的策略，自適應(yīng)地從無序圖像集合中選取適合作為起點(diǎn)的圖像對(duì)同時(shí)開始重建；在重建開始之前，根據(jù)分層最短路徑算法確定每幅圖像的最佳重建子過程，確定重建邊界；并根據(jù)不同子過程得到的子模型，通過其包含的公共部分進(jìn)行拼接，獲得完整的三維重建
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種基于二維激光掃描的掘進(jìn)機(jī)掘進(jìn)窗口快速檢測(cè)方法
本發(fā)明公開了一種基于二維激光掃描的掘進(jìn)機(jī)掘進(jìn)窗口快速檢測(cè)方法，首先，對(duì)掘進(jìn)工作面分別進(jìn)行水平和垂直二維掃描，對(duì)采集到的原始點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行去離群點(diǎn)處理；然后，分別對(duì)去離群點(diǎn)之后的水平和垂直二維掃描點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行直線擬合、求中心線、確定基點(diǎn)的操作，完成窗口檢測(cè)的準(zhǔn)備工作；最后，輸入目標(biāo)距離，分別在水平與垂直中心線上，以基點(diǎn)為原點(diǎn)的目標(biāo)距離處作垂線與擬合得到的兩條直線相交，獲得點(diǎn)對(duì)，水平點(diǎn)對(duì)的空間距離是目標(biāo)距離處的掘進(jìn)窗
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種無磁鏈觀測(cè)的雙饋風(fēng)機(jī)低電壓穿越的控制方法及系統(tǒng)
本發(fā)明公開了一種無磁鏈觀測(cè)的雙饋風(fēng)機(jī)低電壓穿越控制方法 及系統(tǒng)，適用于深度電網(wǎng)故障時(shí)雙饋風(fēng)機(jī)轉(zhuǎn)子側(cè)變流器的勵(lì)磁控制； 其具體實(shí)施方法為：一旦檢測(cè)到電網(wǎng)發(fā)生深度故障，將立即控制雙饋 風(fēng)機(jī)的轉(zhuǎn)子電流以一定比例直接跟蹤定子電流，同時(shí)在轉(zhuǎn)子電流指令 中再注入一定的與定子電壓相關(guān)的補(bǔ)償項(xiàng)來提供動(dòng)態(tài)無功支撐；本發(fā) 明還提供了實(shí)現(xiàn)上述原理的控制系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖。本發(fā)明相對(duì)于滅磁控 制、磁鏈跟蹤等低電壓穿越勵(lì)磁控制方法，無需磁鏈觀測(cè)環(huán)節(jié)來生成 暫態(tài)控制指令，具有結(jié)構(gòu)簡單、且能實(shí)現(xiàn)抑制電磁轉(zhuǎn)矩脈動(dòng)或動(dòng)態(tài)無 功補(bǔ)償?shù)榷喾N控
華中科技大學(xué)
2021-04-14
考慮可變壽命特性的確定電力系統(tǒng)調(diào)峰用電池儲(chǔ)能容量的方法
本發(fā)明公開了一種考慮可變壽命特性的確定電力系統(tǒng)調(diào)峰用電 池儲(chǔ)能容量的方法，將電力系統(tǒng)調(diào)峰用電池儲(chǔ)能的能源節(jié)約效益、環(huán) 保效益、容量替代效益進(jìn)行量化，并納入到容量規(guī)劃目標(biāo)中；計(jì)及電 池儲(chǔ)能的年運(yùn)行成本，并根據(jù)電池儲(chǔ)能運(yùn)行過程中其實(shí)際使用壽命和 放電深度的關(guān)系建立了電池儲(chǔ)能可變壽命模型，計(jì)算其建設(shè)投資成本 等年值，形成確定電力系統(tǒng)調(diào)峰用電池儲(chǔ)能容量的目標(biāo)函數(shù)。在考慮 系統(tǒng)功率平衡約束、系統(tǒng)備用約束、常規(guī)機(jī)組出力約束、火電機(jī)組爬 坡約束以及電池儲(chǔ)能運(yùn)行約束的基礎(chǔ)上，以年凈收益最大為目標(biāo)對(duì)模 型進(jìn)行求解。本
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種空氣等離子切割機(jī)單傳感器引弧電路及其控制方法
本發(fā)明公開了一種空氣等離子切割機(jī)單傳感器引弧電路及其控 制方法。該引弧電路包括輸入電源、移相全橋模塊、濾波模塊、引弧 吸收模塊、維弧模塊、檢測(cè)模塊、高頻模塊、控制模塊。本發(fā)明的控 制方法僅用一個(gè)電流檢測(cè)霍爾來實(shí)現(xiàn)引弧的控制，具體方法如下：先 獲取引弧電路的參數(shù)，計(jì)算出適合的占空比增加速度，再結(jié)合檢測(cè)到 的輸出電壓和輸出電流信號(hào)，進(jìn)行引橫弧控制，最后把控制信號(hào)送入 驅(qū)動(dòng)模塊，產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)信號(hào)并送入移相全橋。本發(fā)明的控制方法使得引 弧電阻上的電流電壓波形為鋸齒波，大大減小了引弧電阻的功率等級(jí)， 提高了切割機(jī)
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種嵌入式微處理器非可克隆函數(shù)密鑰認(rèn)證系統(tǒng)和方法
本發(fā)明公開了一種嵌入式微處理器非可克隆函數(shù)密鑰認(rèn)證系統(tǒng)， 包括嵌入式端、燒寫設(shè)備端和 PC 端，嵌入式端包括 PUF 待分析數(shù)據(jù) 提取模塊以及 IAP 模塊，燒寫設(shè)備端包括待燒寫程序處理模塊，PC 端 包括嵌入式認(rèn)證程序生成模塊、PUF 分析模塊、數(shù)據(jù)庫模塊、散列數(shù) 據(jù)生成模塊、以及幫助數(shù)據(jù)生成模塊，PUF 待分析數(shù)據(jù)提取模塊用于 多次提取 SRAM 中的初始上電數(shù)據(jù)，并將數(shù)據(jù)發(fā)送到 PUF 分析模塊， PUF 分析
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種考慮風(fēng)速和負(fù)荷不確定性的風(fēng)機(jī)準(zhǔn)入容量檢測(cè)優(yōu)化方法
本申請(qǐng)公開了一種考慮風(fēng)速和負(fù)荷不確定性的風(fēng)機(jī)準(zhǔn)入容量檢 測(cè)優(yōu)化方法，屬于含風(fēng)機(jī)的配電網(wǎng)安全穩(wěn)定研究領(lǐng)域?，F(xiàn)有技術(shù)中， 都沒有考慮風(fēng)速的不確定性，并且網(wǎng)絡(luò)中的負(fù)荷處于波動(dòng)狀態(tài)，與風(fēng) 速結(jié)合起來，增加了不確定性因素的維度，本申請(qǐng)基于快速解耦法和 魯棒優(yōu)化理論，通過確定風(fēng)速和負(fù)荷的波動(dòng)范圍，提出了魯棒優(yōu)化方 法，該方法不僅可以實(shí)現(xiàn)在風(fēng)速和負(fù)荷不確定下的單點(diǎn)風(fēng)機(jī)準(zhǔn)入研究， 還可以計(jì)算多點(diǎn)接入時(shí)組合風(fēng)機(jī)的容量。
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種利用多請(qǐng)求隊(duì)列提升 IO 并行性和減少小 IO 延遲的方法
本發(fā)明公開了一種利用多請(qǐng)隊(duì)列提高 IO 并行性和減少小 IO 延 遲的方法，包括建立多個(gè)請(qǐng)求隊(duì)列的步驟和利用選擇策略使 IO 請(qǐng)求選 擇相應(yīng)的請(qǐng)求隊(duì)列進(jìn)行處理步驟，從而實(shí)現(xiàn) IO 請(qǐng)求并行運(yùn)行，其中選 擇策略包括：將每個(gè)進(jìn)程與一個(gè)請(qǐng)求隊(duì)列綁定，以使多個(gè)進(jìn)程上的 IO 請(qǐng)求平均分配到多個(gè)請(qǐng)求隊(duì)列上處理；將每個(gè) CPU 與一個(gè)請(qǐng)求隊(duì)列綁 定，以使多個(gè) CPU 上的 IO 請(qǐng)求平均分配到多個(gè)請(qǐng)求隊(duì)列上處理。本 發(fā)明還公開了
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種基于缺陷區(qū)預(yù)判和水平集的 TFT-LCD Mura 缺陷檢測(cè)方法
本發(fā)明公開了一種基于缺陷區(qū)域預(yù)判和水平集的 TFT-LCD-Mura 缺陷檢測(cè)方法。該方法提出了一種缺陷區(qū)域預(yù)判法先找到缺陷區(qū)域， 然后將缺陷區(qū)域的像素剔除，用余下的像素?cái)M合得到背景圖像;用原 圖像減去背景圖像來消除背景不均勻性對(duì)缺陷分割的影響，求差后得 到殘差圖像，然后用一種基于閾值的水平集方法對(duì)殘差圖像進(jìn)行分割 來檢測(cè)得到缺陷。該方法可以獲得精度較高的背景圖像，對(duì)于光照影 響有較好的魯棒性，能夠獲得準(zhǔn)確的分割結(jié)果以及較低的誤檢率。
華中科技大學(xué)
2021-04-14