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西安科技大學(xué)機械工程學(xué)院自 2004 年開始對冶金系統(tǒng)無功補償技術(shù)和控制方法進(jìn)行研究，目前此項技術(shù)已經(jīng)成熟并在全國開始推廣應(yīng)用。該項目授權(quán)發(fā)明專利 1 項，實用新型專利 1 項，軟件著作權(quán) 1 項。成果及開發(fā)裝備在遼寧省本溪縣大興電石廠的 12500kVA 電石爐、湖南長樂鐵合金有限公司的 16500kVA 硅錳爐、石家莊三環(huán)錳硅科技有限公司的 12500kVA 鉻鐵爐上應(yīng)用并取得良好效果。

可以量產(chǎn)/n隨著社會的進(jìn)步和生活水平的提高，人們對美的要求越來越強烈。為了提高生活質(zhì)量，要求整復(fù)有缺憾的鼻外形者日趨增多，該項發(fā)明專利主要是使用人自體第三磨牙，進(jìn)行梯度脫礦后制備成隆鼻支架，用于鞍鼻畸形整復(fù)。自體牙隆鼻材料與其他隆鼻材料相比有易塑形，強度與鼻骨、鼻軟骨接近，無吸收，生物相容性好，無免疫排斥，不影響供區(qū)功能及形態(tài)等眾多優(yōu)點，至今已為數(shù)百名患者解決了鼻部畸形問題，此項成果已被社會所接受，該成果在數(shù)十家新聞

本發(fā)明公開了一種集成電路管腳三維檢測裝置，包括圖像采集單元(2，3)、平面反射鏡(4)、光源(5)、反光板(6)和圖像檢測處理單元(1)，待檢測的芯片(8)設(shè)置在反光板(6)下方，所述光源(5)發(fā)出的光束經(jīng)反光板(6)反射后照射在待檢測的芯片(8)上，再經(jīng)平面反射鏡(4)發(fā)射后入射到圖像采集單元(2，3)，該圖像采集單元(2，3)與圖像檢測處理單元(1)連接，圖像采集單元(2，3)采集獲得待檢測的芯片(8)的圖像，傳送到圖像檢測處理單元(1)，經(jīng)處理后即可實現(xiàn)對芯片管腳的三維檢測。本發(fā)

本發(fā)明公開了一種光子晶體微球、其制備方法及應(yīng)用。所述光 子晶體微球，包括光子晶體內(nèi)核和聚合物外殼；內(nèi)核為聚苯乙烯-聚(N- 異丙基丙烯酰胺)共聚物納米粒子懸浮液，納米粒子的平均粒徑在 110nm 至 190nm 之間；外殼為疏水性光引發(fā)樹脂，厚度在 30μm 至 50μm 之間。其制備方法包括以下步驟：(1)將苯乙烯、N-異丙基丙烯 酰胺、十二烷基磺酸鈉和引發(fā)劑均勻混合，發(fā)生乳液聚合反應(yīng)制得懸 浮液；(2)采用微流控

本發(fā)明涉及顆粒物荷電量測量裝置及方法，所述裝置包括順次連接的氣瓶、顆粒發(fā)生裝置、荷電器、檢測器和引風(fēng)機，所述氣瓶與顆粒發(fā)生裝置之間設(shè)有第一流量計，檢測器與引風(fēng)機之間設(shè)有第二流量計；所述荷電器設(shè)置在檢測器左端，檢測器右端通過管道與引風(fēng)機連通；所述荷電器通過第一導(dǎo)線與荷電器高壓電源相連，檢測器通過第二導(dǎo)線與檢測器高壓電源相連。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單，設(shè)計合理，能夠精準(zhǔn)測量靜電除塵器中各單一顆粒的荷電量，從而研究靜電除塵器顆粒的荷電機理；有助于靜電除塵系統(tǒng)進(jìn)行設(shè)計和研究，從而提高靜電除塵器除塵效率，有效地控制燃煤煙氣顆粒物的排放。

該裝置屬專利技術(shù)，是一種電弧放電光纖研磨截面高精度拋光方法及裝置，利用兩電極間的放電電弧對研磨后光纖表面進(jìn)行拋光處理，以便去除光纖研磨過程中產(chǎn)生的微裂損傷，提高研磨光纖的質(zhì)量的新型光纖拋光設(shè)備。屬于光纖通信系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域，特別屬于利用光纖包層場的變化來制作高精度光器件的技術(shù)領(lǐng)域。 光纖屬于硬脆玻璃材料，在光纖研磨過程中，研磨砂將不可避免地會在其表面產(chǎn)生大量的凹坑和微裂損傷，表面粗糙度較高，從而引起光信號的散射和吸收損耗較大，雖然采用顆粒尺寸很小的微粉對光纖的研磨表面進(jìn)行機械拋光，可在一定程度上降低表面的粗糙度，但機械微粉拋光法并不能消除研磨光纖表面那些不可見的微裂損耗，如果不進(jìn)行處理，當(dāng)空氣中的水汽進(jìn)入這些微裂紋時，將導(dǎo)致所制作的光纖器件的性能很快惡化，對提高器件的穩(wěn)定性極為不利的。而且由于光纖的直徑僅為125微米，為提高其研磨表面的光滑行對機械微粉的材料、尺寸和純凈性要求極高，在實際加工中并不適用。因此，為進(jìn)一步提高光纖研磨后表面的光滑性，避免微裂損傷造成的器件性能惡化，迫切需要一種價格便宜、使用方便、并且能對研磨光纖表面的微裂紋進(jìn)行消除的新型拋光設(shè)備。 技術(shù)內(nèi)容： 利用兩電極間的放電電弧對研磨后光纖表面進(jìn)行高精度拋光的方法及裝置， 解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是： 一種電弧放電光纖研磨截面高精度拋光方法，其特征在于，利用在電壓控制下，兩電極放電電弧所產(chǎn)生的高溫效應(yīng)，將研磨光纖的表面進(jìn)行熔化，消除研磨光纖表面的微裂紋；通過定位傳感器，是放電電極沿著研磨后待拋光光纖的軸向移動，調(diào)節(jié)光纖拋光的長度；利用電機速度控制器控制電極的移動速度。 技術(shù)特點： 1、利用在電壓控制下，兩電極放電電弧所產(chǎn)生的高溫效應(yīng)，經(jīng)研磨光纖表面進(jìn)行熔化，消除研磨光纖表面的微裂紋； 2、利用電壓控制PZT，調(diào)節(jié)放電電極與研磨后待拋光光纖間的距離，調(diào)節(jié)精度為0.01微米； 3、通過精密導(dǎo)向機構(gòu)和定位傳感器控制拋光電極的移動范圍，調(diào)節(jié)光纖拋光的長度，長度為0-140mm； 4、利用電機速度控制器對電極的移動速度進(jìn)行控制。 利用電壓控制壓電陶瓷PZT，從而調(diào)節(jié)放電電極與研磨后待拋光光纖間的距離；并通過定位傳感器來控制拋光電極的移動范圍，實現(xiàn)光纖拋光的長度的調(diào)節(jié)。其發(fā)明的主要內(nèi)容如下： 該拋光裝置，由PZT高度調(diào)節(jié)器，電機速度控制器、精度導(dǎo)向傳送帶，定位傳感器、V型刻槽光纖放置用微晶玻璃和電極組成。主要優(yōu)點：（1）采用火焰拋光的方法，通過PZT調(diào)節(jié)研磨拋光后的光纖與電極的相對位置，利用電極打火所產(chǎn)生的高溫將研磨光纖的表面進(jìn)行熔化，從而有效消除研磨光纖表面的粗糙度，抑制微裂紋或凹坑造成的較大損耗；（2）通過精密導(dǎo)向機構(gòu)的定位傳感器，是放電電極沿著研磨后待拋光光纖的軸向移動，從而實現(xiàn)對光纖拋光的長度進(jìn)行任意調(diào)節(jié)；（3）利用電機速度控制器對電極的移動速度進(jìn)行控制。

本發(fā)明公開了一種縫合器釘艙驗釘裝置及方法，本發(fā)明包括傳送模塊、控制系統(tǒng)，所述縫合器釘艙驗釘裝置還包括定位檢測模塊和定位分揀模塊；所述定位檢測模塊由光電探頭、閃光燈、USB攝像頭，pc機組成；所述定位分揀模塊由光電探頭、光電探頭、推送板和推送裝置組成；本發(fā)明還提供了一種縫合器釘艙驗釘方法。本發(fā)明通過所述PC機自動檢測識別所述縫合器釘艙孔中是否漏裝或多裝縫合釘，并將結(jié)果反饋給所述控制系統(tǒng)，所述定位分揀模塊基于所述控制系統(tǒng)的結(jié)果，對所述檢測釘艙進(jìn)行分揀。本發(fā)明提供了一個可行性好、自動化高，智能高效的縫合器驗釘裝置和方法，并實現(xiàn)自動分揀。

本發(fā)明公開了一種基于極化碼的分段CRC校驗堆棧譯碼方法，包括：將信息序列分為N部分；對每一段最后一位比特在極化碼碼字序列中的位置進(jìn)行標(biāo)記；在進(jìn)行堆棧譯碼的過程中，當(dāng)譯碼長度到達(dá)標(biāo)記位置時，實施CRC檢驗，若通過，則該譯碼路徑存活，若不通過，則該譯碼路徑被淘汰。與傳統(tǒng)的方法相比，本發(fā)明大大降低了算法復(fù)雜度并使譯碼性能得到提升，并提升了譯碼的正確率。此外，在譯碼方法的基礎(chǔ)上，硬件架構(gòu)同時被提出，資源占據(jù)較傳統(tǒng)算法實現(xiàn)了降低。

本發(fā)明公開了一種穗萌抑制劑及抑制水稻穗萌的方法，該穗萌抑制劑以水為溶劑，含有濃度為400-1200mg/kg的丁香酚、濃度為300-600mg/kg的烯效唑和濃度為400-500mg/kg的馬來酰肼。所述抑制水稻穗萌的方法包括：在水稻的乳熟末期至黃熟初期期間，將穗萌抑制劑均勻噴施于稻穗上。本發(fā)明以低毒性易降解的丁香酚以及能抑制赤霉素生物合成的烯效唑、具強烈發(fā)芽抑制性的馬來酰肼進(jìn)行組合，不但有效地降低了水稻穗萌率，而且使收獲之后的水稻種子保持良好的綜合品質(zhì)；該抑制劑以水為基質(zhì)，未添加任何有機溶劑，環(huán)保且生產(chǎn)工藝簡單，材料用量少，成本低廉。

本發(fā)明提供一種相機快門延遲時間測量裝置及方法，設(shè)置單片機、顯示器和相機的快門控制線，單 片機分別連接顯示器和相機的快門控制線，顯示器置于相機的取景范圍內(nèi)，所述單片機執(zhí)行流程：步驟 1，啟動計數(shù)器，計數(shù)器的累加結(jié)果輸出顯示在顯示器上；步驟 2，延遲等待相機準(zhǔn)備好；步驟 3，判斷 是否以及達(dá)到預(yù)設(shè)的測量次數(shù)，是則結(jié)束工作，否則復(fù)位計數(shù)器，通過快門控制線向相機發(fā)出曝光指令， 使得相機拍攝顯示器得到該相機當(dāng)前的快門延遲時間，然后返回步驟 2，直到達(dá)到測量次數(shù)。應(yīng)用本發(fā) 明技術(shù)方案能夠迅速、準(zhǔn)確地測量相機快門延遲時間參數(shù)，保證后續(xù)影像數(shù)據(jù)處理準(zhǔn)確性。