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一種用于廣義橢偏儀的光強(qiáng)自動調(diào)整裝置及其控制方法
本發(fā)明公開了一種廣義橢偏儀光強(qiáng)自動調(diào)整裝置及其控制方法。裝置主要包括計(jì)算機(jī)、光譜儀、伺服電機(jī)控制器、直流伺服電機(jī)、增量式編碼器和中性密度濾光片轉(zhuǎn)盤。在廣義橢偏儀硬件連接完成的情況下，根據(jù)光譜儀采集的光譜曲線是否飽和以及是否絕大部分在光譜儀線性響應(yīng)區(qū)間來決定是否要轉(zhuǎn)動直流伺服電機(jī)，從而帶動中性密度濾波片轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動以切換中性密度濾波片來改變光源照射出來的光強(qiáng)大小。本發(fā)明可以實(shí)現(xiàn)對雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器廣義橢偏儀光強(qiáng)自動調(diào)整，且響應(yīng)快速，操作簡單。
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種基于并發(fā)改進(jìn)的大規(guī)模圖數(shù)據(jù)流式劃分方法及系統(tǒng)
本發(fā)明公開了一種基于并發(fā)改進(jìn)的大規(guī)模圖數(shù)據(jù)流式劃分方法 及系統(tǒng)，屬于計(jì)算機(jī)存儲領(lǐng)域。本發(fā)明包括：工作節(jié)點(diǎn)登記同步；代 理服務(wù)器發(fā)送頂點(diǎn)信息；工作節(jié)點(diǎn)返回梯度信息；代理服務(wù)器發(fā)送最 優(yōu)分區(qū)信息；工作節(jié)點(diǎn)保存分區(qū)結(jié)果。本發(fā)明通過一次發(fā)送多個(gè)頂點(diǎn) 及其相關(guān)信息的方法，解決了現(xiàn)有流式圖劃分方法一次網(wǎng)絡(luò)時(shí)延處理 一個(gè)頂點(diǎn)的問題，減少網(wǎng)絡(luò)時(shí)延對系統(tǒng)的影響，提高了圖劃分效率。
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種 III-V 族量子點(diǎn)誘導(dǎo)生長鈣鈦礦晶體的方法
本發(fā)明公開了一種 III-V 族量子點(diǎn)誘導(dǎo)生長鈣鈦礦晶體的方法， 包括以下步驟：(1)將 III-V 族量子點(diǎn)分散于非極性溶劑中得到量子點(diǎn)溶 液，將無機(jī)配體溶解于極性溶劑中得到無機(jī)配體分散液，再將量子點(diǎn) 溶液與無機(jī)配體分散液混合攪拌，極性溶劑所在層即對應(yīng)第一前驅(qū)體溶液；(2)將 PbX2 與 MAX 均勻分散于極性溶劑中得到第二前驅(qū)體溶 液；(3)將第一前驅(qū)體溶液與第二前驅(qū)體溶液混合后利用反溶劑法生長 晶體，從而在
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種數(shù)控系統(tǒng)加工過程數(shù)據(jù)的采集、轉(zhuǎn)儲方法及其系統(tǒng)
本發(fā)明公開了一種數(shù)控系統(tǒng)加工過程數(shù)據(jù)的采集、轉(zhuǎn)儲方法及其系統(tǒng)，該方法包括以下步驟：在加工開始前設(shè)置需要采集的數(shù)據(jù)類型，該數(shù)據(jù)類型包括數(shù)控系統(tǒng)內(nèi)部的指令數(shù)據(jù)；在加工過程中，以一個(gè)數(shù)控系統(tǒng)的控制周期為周期將需要采集的數(shù)據(jù)類型對應(yīng)的數(shù)據(jù)記錄到數(shù)據(jù)緩存區(qū)中；然后再將數(shù)據(jù)緩存區(qū)中的數(shù)據(jù)通過通訊接口轉(zhuǎn)儲到其他存儲設(shè)備。本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，由于通過對數(shù)控系統(tǒng)內(nèi)部指令數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，采集的數(shù)據(jù)類型全面，能夠有效彌補(bǔ)現(xiàn)有數(shù)控系統(tǒng)無法全面反映加工過程的缺陷；數(shù)據(jù)為按周期連續(xù)采集，且傳感器反饋的采樣信號與內(nèi)部的指令數(shù)據(jù)同
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種基于光纖聲光模互作用的溫度和應(yīng)變同時(shí)測量方法
本發(fā)明公開了一種基于光纖聲光模互作用的溫度和應(yīng)變同時(shí)測 量方法，利用光纖中激發(fā)的某一個(gè)光模與對應(yīng)激發(fā)的多聲模之間的互 作用產(chǎn)生多峰布里淵增益譜，從多峰布里淵增益譜中任意選取兩個(gè)增 益峰的某一特征量進(jìn)行比對測量，或任意選取一個(gè)增益峰的某兩個(gè)特 征量進(jìn)行比對測量，獲取布里淵頻移和/或布里淵增益系數(shù)隨溫度和應(yīng) 變的感知靈敏系數(shù)，構(gòu)成系數(shù)矩陣，通過求解矩陣方程獲取溫度和應(yīng) 變，實(shí)現(xiàn)溫度和應(yīng)變的同時(shí)測量；本發(fā)明提供的溫度和應(yīng)變同時(shí)測量 方法，在消除溫度和應(yīng)變交叉敏感不利影響的同時(shí)，無需引入額外的 測量機(jī)制或設(shè)
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種基于多波段耦合的增材制造過程熔池監(jiān)測裝置及方法
本發(fā)明公開了一種基于多波段耦合的增材制造過程熔池監(jiān)測裝置及方法，所述裝置由加工單元、信號采集單元、數(shù)據(jù)處理單元和數(shù)據(jù)存儲單元組成。本發(fā)明利用多波長折-衍混合 f-theta 聚焦鏡、二向色鏡等光學(xué)元件將三種不同波段的光路(激光加工光路、激光照明光路以及熔池圖像信息采集光路)在成形腔外進(jìn)行同軸耦合，用于對快速移動的微小熔池進(jìn)行實(shí)時(shí)追蹤和采集。此外，通過數(shù)據(jù)處理單元和數(shù)據(jù)存儲單元對熔池圖像和特征信息進(jìn)行快速計(jì)算處理和多級
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種硒化銻薄膜太陽能電池的背表面處理方法
本發(fā)明屬于薄膜太陽能電池制備領(lǐng)域，具體公開了一種硒化銻 薄膜太陽能電池的背表面處理方法，該方法是使用含有二硫化碳的液 體接觸處理硒化銻薄膜太陽能電池中硒化銻薄膜層的表面，并以經(jīng)處 理后的硒化銻薄膜層的表面作為硒化銻薄膜太陽能電池的背表面。本 發(fā)明通過對硒化銻薄膜太陽能電池中硒化銻薄膜層的背表面進(jìn)行處理 改進(jìn)，有效降低了硒化銻薄膜太陽能電池的背接觸勢壘，達(dá)到了提高 器件的填充因子的效果，進(jìn)而提高了硒化銻薄膜太陽能電池的
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種改善低電壓穿越期間風(fēng)電場注入電流特性的系統(tǒng)及方法
本發(fā)明公開了一種改善低電壓穿越期間風(fēng)電場注入電流特性的 系統(tǒng)及方法，其系統(tǒng)包括儲能裝置以及儲能控制器；風(fēng)電場的出口匯 集母線處電壓輸出端作為儲能控制器的輸入端；儲能裝置的輸入端連 接儲能控制器輸出端；儲能裝置的輸出端用于連接電網(wǎng)側(cè)的匯集母線； 當(dāng)風(fēng)電場外送功率線路上發(fā)生故障時(shí)，儲能控制器根據(jù)風(fēng)電場的出口 匯集母線處的電壓，計(jì)算獲取需要儲能裝置需提供的有功功率值，并 控制儲能裝置對匯集母線處的電壓頻率偏差進(jìn)行處理，輸出相應(yīng)的有 功功率；進(jìn)而控制風(fēng)電場和儲能裝置注入?yún)R集母線處的電流特性，保 證注入電流的
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種繼電定值修改的主站系統(tǒng)、遠(yuǎn)程系統(tǒng)及控制方法
本發(fā)明公開了一種繼電定值修改的主站系統(tǒng)、遠(yuǎn)程系統(tǒng)及控制 方法。該主站系統(tǒng)包括安全校驗(yàn)?zāi)K、定值召喚模塊、定值設(shè)置模塊、 審核模塊以及傳輸模塊；所述定值召喚模塊用于發(fā)出定值召喚請求， 并根據(jù)第一繼電保護(hù)定值獲取對應(yīng)的定值設(shè)置任務(wù)；所述安全校驗(yàn)?zāi)?塊用于根據(jù)外部的執(zhí)行人員的請求以及硬件加密裝置，將定值設(shè)置模 塊或?qū)徍四K設(shè)置于工作狀態(tài)；所述定值設(shè)置模塊用于選取定值設(shè)置 任務(wù)，并獲取與所述定值設(shè)置任務(wù)對應(yīng)的第二繼電保護(hù)定值；所述審 核模塊用于審核第二繼電保護(hù)定值，并發(fā)出繼電保護(hù)應(yīng)用請求本發(fā)明 建立了具有完
華中科技大學(xué)
2021-04-14
一種基于給定閾值的數(shù)控成品電路板性能退化測評方法
本發(fā)明公開了一種基于給定閾值的數(shù)控成品電路板性能退化測評方法，包括：(a)選取測評樣板執(zhí)行加速性能退化試驗(yàn)，并測量表面絕緣電阻值；(b)執(zhí)行試驗(yàn)數(shù)據(jù)擬合，建立測試樣板的加速性能退化模型；(c)基于失效閾值并結(jié)合加速性能退化模型，計(jì)算得出測評樣板的偽失效壽命；(d)選取測評樣板的壽命分布模型，并利用偽失效壽命擬合檢驗(yàn)來計(jì)算壽命分布模型的參數(shù)；(e)確定測試樣板的壽命分布概率密度函數(shù)，計(jì)算其平均壽命，由此完成對電路板的性能退化測評過程。通過本發(fā)明，能夠克服現(xiàn)有可靠性測評技術(shù)中失效數(shù)據(jù)的不足，同時(shí)節(jié)約可靠
華中科技大學(xué)
2021-04-14