本發(fā)明屬于精密加工與測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，并公開(kāi)了一種基于核外 電子概率密度分布的復(fù)雜曲面零件匹配檢測(cè)方法，包括:對(duì)待測(cè)零件 進(jìn)行非接觸式掃描獲得掃描點(diǎn)云，并將其與設(shè)計(jì)點(diǎn)云組成匹配比較對(duì) 象;將兩片點(diǎn)云轉(zhuǎn)換到同一三維坐標(biāo)系內(nèi)，并將各個(gè)點(diǎn)看作原子的原子核，將此原子核的鄰域點(diǎn)看作核外電子，遍歷所有點(diǎn)計(jì)算得出其對(duì) 應(yīng)的電子概率密度分布值;基于計(jì)算得出的電子概率密度分布值確定 兩個(gè)模型的誤差，并在當(dāng)前誤差不滿足終止條件時(shí)對(duì)測(cè)量點(diǎn)云進(jìn)行粗 匹配和精匹配，直至滿足終止條件為止。通過(guò)本發(fā)明，能夠有效解決 現(xiàn)有非接觸式匹配