高等教育領域數字化綜合服務平臺
華中科技大學
教育部
- 74 高校采購信息
- 3296 科技成果項目
- 0 創新創業項目
- 0 高校項目需求
一種 RFID 天線的外觀缺陷檢測系統及其方法
2021-04-14 00:00:00
云上高博會
http://www.gxf2npi.xyz
關鍵詞：
RFID 天線
所屬領域:
項目成果/簡介:
本發明公開了一種用于 RFID 天線的外觀缺陷檢測方法，包括：攝像裝置的預標定步驟；將攝像裝置移動至所需位置，并通過與條形光源或背光光源之間的配合，對待檢測的天線拍攝其圖像；采集所拍攝的圖像并對其執行邊緣檢測，由此獲得檢測圖像內的天線數量并分別記錄其長、寬和中心點坐標值等信息；以及根據需求，選擇性執行線寬檢測、圖案斷線/粘連檢測和毛刺/印刷污染檢測等項目中的至少一項，由此獲知所檢測天線的質量結論。本發明還公開了相應的檢測系統。通過本發明，能夠以結構緊湊、便于操作的方式來對 RFID 天線執行質量檢測
項目階段:
掃碼關注，查看更多科技成果
取消
確定