高等教育領域數字化綜合服務平臺
華中科技大學
教育部
- 74 高校采購信息
- 3295 科技成果項目
- 0 創新創業項目
- 0 高校項目需求
面掃描三維測量系統精度的實時調整方法
2021-04-13 00:00:00
云上高博會
http://www.gxf2npi.xyz
關鍵詞：
掃描三維測量系統
所屬領域:
項目成果/簡介:
本發明公開了一種面掃描三維測量系統精度的實時調整方法。
首先通過判斷相機內外部參數是否符合當前工作狀態要求來確定面掃
描三維測量系統的精度是否符合要求，如果相機內外部參數符合當前
工作狀態要求則繼續測量，否則利用 Levenberg-Marquardt 算法對相機
內外部參數進行優化，使目標函數的平均值最小，此時認為相機內外
部參數是最優的；接著判斷目標函數的平均值是否小于誤差閾值，是
則用優化后的相機內外部參數繼續測量，否則提示用戶重新進行標定。
本方法能實時、在線地進行精度自檢測和相機參數自動優化，在不重
復標定的情況下，能夠使得相機的重投影誤差平均值保持在 0.0028 像
素左右達 20 天以上。
項目階段:
掃碼關注，查看更多科技成果
取消
確定